《x射线光谱分析》ppt课件-文库吧

【正文】

8 4 . 7 7 5 1 0 . 5 4 2 1 2 . 6 2 6 2 . 3 4 383 Bi 铋 7 6 . 2 5 3 8 7 . 1 6 8 1 0 . 8 2 8 1 3 . 0 2 6 2 . 4 2 0能量（ｋｅＶ）原子序号 元素符号 中文名7 X射线荧光谱仪 8 X射线荧光光谱 XRFS XRay Fluorescence Spectrum 定义 – 利用 X射线照射样品，产生二次辐射，依据二次辐射的光谱进行化学成份的定性和定量分析 测试的样品 – 固体（块状）、粉末、薄膜、泥浆、液体等 测试特点 – 快速、准确、样品制备方便 – 不损坏样品，不改变样品的性质 9 激发方式 不使用滤片：由 X射线管发出的 X射线直接照射在样品上，可得到对各元素都较高的激发效率。常选用钨靶。利用的是连续谱中波长小于受激元素吸收限的那部分辐射。 使用滤片：用特征辐射照射样品。有选择性的激发。 使用二次靶：让初级 X射线照射金属靶，用它产生的荧光辐射照射样品。 10 荧光产额 K系荧光产额 – 每一次 K激发引起 K发射的几率 其它有 L系荧光产额、 M系荧光产额等 低原子序数元素的荧光产额较低 11 基体吸收效应 涉及的过程 –初级辐射射入样品 –荧光辐射射出样品 吸收量的衡量 –样品的质量吸收系数 12 基体吸收效应 FeAl合金的吸收系数低于含铁量相同的 FeAg合金的吸收系数，所以，初级辐射在 FeAl合金中的贯穿深度大于FeAg合金，射出时荧光辐射被吸收的也少 13 增强效应 概念 –对于多元素样品，若初级辐射能使样品中的 B元素发射出波长为 的荧光辐射，如果它小于 A元素的吸收限波长，则不但初级辐射能激发 A元素使之产生 K系荧光辐射，而且，来自 B元素的荧光辐射也能激发 A元素，即所谓的二次荧光。 14 增强效应 虚线：不考虑增强效应时的曲线 FeNi实线：由于Ni的 K能激发FeK 辐射 15 荧光 X射线强度的影响因素 初级 X射线的波长、强度分布 样品各元素原子的荧光产额 样品的基体吸收效应 样品各元素间的增强效应 16 波谱仪 WDS Wave Dispersion Spectrum 定义 – X射线波长分散谱仪 – 利用晶体衍射把不同波长的 X射线分开，这种晶体称为分光晶体 由布拉格定律，从试样中发出的特征 X射线，经一定晶面间距的晶体分光，波长不同的特征 X射线将有不同的衍射角。 连续改变 ，在与 X射线入射方向呈 2 的位置 上测到不同波长的特征 X射线信号。 17 平面晶体波谱仪的基本结构 X射线源 样品室 测角器 平面分光晶体 光子检测器 基本结构与 X射线衍射仪十分相似 18 弯曲晶体波谱仪 采用弯曲的分光晶体的原因 – X射线束定点于样品表面， X射线信号发生于样品表面以下一个极小的体积，发射的 X射线总是发散的，为了提高探测效率。 19 分光晶体分辨率 分光晶体分开或辨别邻近谱线的能力，即当波长发生微小变化时所引起的衍射角的微小变化。即：d/d= 1/（ 2 dcos） 2 太小，分辨率太差。一般要求 2  20176。 .分光晶体检测的波长有下限。 检测器的测角范围也限制了检测的最大波长。 某个特定晶体只能检测某个波长范围的 X射线 为了使可分析元素尽可能覆盖